研究蒙脱石原料及其散剂的粒度与晶体杂质
目的:建立更为有效的激光粒度法与X-射线衍射法测定国产蒙脱石原料及其散剂的粒度与晶体杂质.方法:粒度测定:使用马尔文2000激光粒度仪,在800 mL水中以3000 r·min-搅拌15min,湿法测定.晶体杂质测定:采用X-射线衍射法;阴极:铜;滤过片:镍;电源:45 kV 、40 mA;狭缝:0.1°;衍射角(2θ)从2°到80.扫描.结果:考察的5个企业15批蒙脱石原料中,60%均检出致癌物方英石;生产蒙脱石散的20个企业样品65%的产品检出方英石.结论:激光粒度法更为真实地反映了蒙脱石粒度的分布情况,可明显区分不同企业蒙脱石粒度的差别.X-射线衍射法可有效控制蒙脱石及其散剂中致癌物方英石的量.
天然矿物、硅酸盐粘土矿、膨润土、蒙脱石(微晶高岭石)、原料、散剂、激光粒度法、X-射线衍射法、粒度、晶体杂质、致癌物、方英石、质量评价、标准提高、安全监测
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R917(药物基础科学)
2012-09-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
829-833