全息干涉法测量Ⅰ型结构面KⅠ技术路线

摘要：

岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ是岩体的一个重要参数,求取KⅠ的过程需确定结构面几何影响因子γ.根据修正的Feddersen公式,可以制作出与工程岩体Ⅰ型结构面具有相同的试验岩石模型.根据激光全息干涉法两次曝光法的理论,结合裂纹尖端的应力场方程组、平面光弹性的应力-光定律,建立新的标准化试验方法和算法,可以构建出使用激光全息干涉法2次曝光法测量工程岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ的试验技术路线,该法具有条纹易识别,精度高的优点.

关键词：全息干涉法、应力强度因子、几何影响因子、工程岩体

所属期刊栏目：29

分类号：TB877(摄影技术)

资助基金：中国青年科学基金资助项目40302032

在线出版日期：2009-02-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：3124-3127,3143