LA-(MC)-ICPMS和(Nano) SIMS硫化物微量元素和硫同位素原位分析与矿床形成的精细过程

摘要：

硫化物微区原位分析技术包括LA-ICPMS定点微量元素分析、LA-ICPMS和(Nano) SIMS微量元素面扫描分析,以及SIMS、NanoSIMS和LA-MC-ICPMS原位硫同位素点分析和面扫描.这些分析方法可以有效地获取不同期次硫化物微量元素含量、丰度分布图像、硫同位素比值和分布特征,结合微区时间分辨信号谱图、微量元素相关性分析等,在矿床学的成矿元素行为与赋存状态、成矿元素置换反应、成矿流体与硫的来源、矿石矿物的化学分带性、矿床成因模型等研究中有着重要的应用前景,以探讨矿床的精细成矿过程.硫化物原位微量元素和同位素LA-(MC)-ICPMS和(Nano) SIMS分析,需要降低仪器和分析方法的系统误差,克服严重的基体效应和同位素分馏效应.

关键词：LA-(MC)-ICPMS、(Nano)SIMS、微量元素、硫同位素、硫化物、成矿过程、金属矿床

所属期刊栏目：34

分类号：P578.2;P597.2(矿物学)

资助基金：国家重点研发计划项目2016YFE0203000;国家自然科学基金项目41672094

在线出版日期：2019-01-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共18页

页码：3479-3496