X射线荧光分析在岩屑录井中的应用

摘要：

通过典型岩石化学的理论计算分析了部分沉积岩的成分特征和差别,为X射线荧光(XRF)录井分析鉴别岩性奠定了理论基础.地层在岩性组合与厚度上的差别是XRF录井技术鉴定地层的基本前提.根据沉积岩薄层岩层的厚度,提出以分米作为XRF录井取样的最低分辨率的标准.并以实例论述了在石油钻井的随钻过程中,采用XRF录井新技术进行岩性分析和地层对比的步骤;评价和展望了XRF录井新技术的特点与应用远景;指出建立不同岩性主要元素理论数据库和地区性地层岩性变化元素理论剖面的重要性;提出进一步改进XRF录井技术的方向.

关键词：岩石化学分析、XRF录井、岩性识别、层位判断、统计分析、Fe/Si比

所属期刊栏目：28

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2009-04-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：58-68