(Sm,Ce)/Zr基柱撑蒙脱石的微结构特征

摘要：

室温条件下,在锆基的基础上加入其他金属离子配制了(Sm,Ce)/Zr基柱化剂.用该聚合阳离子柱撑钙基蒙脱石,室温下d001值为2.1～2.3 nm,焙烧300℃后,d001值为1.8 nm,衍射峰敏锐对称,说明柱撑蒙脱石的热稳定性超过300℃.FTIR分析结果表明(Sm,Ce)/Zr基柱化剂和蒙脱石的Si-O四面体层形成了稳定的[Si-O]-[H(O)-Zr(Sm,Ce)]键,从结构上解释了(Sm,Ce)/Zr基柱撑蒙脱石材料结构稳定的机理.

关键词：(Sm、Ce)/Zr基柱化剂、柱撑蒙脱石、微结构特征、FTIR分析

所属期刊栏目：23

分类号：P578.967;P573(矿物学)

资助基金：国土资源部地质行业科技发展基金959620

在线出版日期：2004-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：173-176