10.3969/j.issn.1000-6524.2001.02.008
钾膨胀石墨层间化合物(K-EGICS)的电阻率测量
在低温惰性条件下合成的钾膨胀石墨层间化合物(K-EGICS)的电学性能与膨胀石墨的电学性能完全相反,随着温度的升高,K-EGICS的电阻率逐渐升高,电导率逐渐降低.这一现象是由客体材料钾自身的结构及其与膨胀石墨化合时的键性决定的.
膨胀石墨、钾膨胀石墨层间化合物、电阻率、电导率
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P579(矿物学)
国家自然科学基金59572022
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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167-170