引脚受限数字微流控芯片的多液滴并行测试研究

摘要：

随着数字微流控芯片系统复杂度和电极数目的增加,共用引脚的电极控制方式应运而生.但该控制方式会造成芯片物理结构繁杂,使得芯片故障测试工作变得更加困难.提出一种基于改进的化学反应优化算法(CRO)的并行测试策略,设计引脚受限芯片测试模型,针对引脚互连的特点设计约束条件与禁忌判断规则,通过遍历测试模型中顶点和边的方式检测灾难性故障.该方案构建测试路径序列的初始分子结构,在编码中添加虚拟节点,有针对性地设计分子的撞墙、分解、合成和交换反应,采用动态参数机制控制四种反应的频率,并在CRO算法中引入Metropolis准则以改善求解效率,在约束条件下规划测试路径.实验结果表明,该方案能实现对引脚受限芯片的故障测试,无论离线或在线测试,与标准CRO算法相比,测试路径优化了2％以上,而与单液滴测试相比,优化了27％以上,表明所提方法能够有效缩短测试路径,提高测试工作的效率.

关键词：数字微流控芯片、引脚受限、改进CRO算法、多液滴并行测试

所属期刊栏目：41

分类号：TP306;TN407;TH79(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;广西自动检测技术与仪器重点实验室基金

在线出版日期：2020-12-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：255-263