大规模成像电子系统可靠性优化设计

摘要：

为了保证大规模成像电子学系统的可靠性，同时尽可能降低研制成本，本文引入了遗传算法，首先，将大规模电子学系统细化为子系统、模块级的基本串并联形式，进行可靠性计算，综合考虑可选方案，设置约束条件，进行选择、交叉和变异操作找到最优适应度对应个体，即得到最佳优化方案。实验结果表明，遗传算法能很好的给出最优设计方案，以实际工程为例在节约成本的基础上能保证系统可靠性达到0.993以上，可应用于大规模电子系统可靠性方案设计的选取。

关键词：成像电子学、可靠性分析、优化设计、遗传算法

在线出版日期：2015-03-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：82-86