热感知的SoC蚁群优化测试调度方法

摘要：

由于在压缩测试时间和降低测试温度方面的作用,SoC测试调度技术引起了研究者的广泛关注.研究发现,芯片的功耗剖面与热剖面并不一致,而过多的热量才是导致芯片失效的直接原因,因此通过峰值功耗或平均功耗的约束来进行测试优化调度并不一定可以避免芯片过热.以峰值温度为约束,提出一种基于蚁群算法的SoC测试调度方法,用于避免芯片局部过热的现象.基准电路上的实验结果表明,该方法可在保证芯片热安全的条件下明显优化测试时间.

关键词：热感知、测试调度、蚁群优化

所属期刊栏目：35

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61006032;广东省自然科学基金s2011010001234;深圳市科技计划JCYJ2012061414572639,ZYC2011051703564A

在线出版日期：2014-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：948-953