片上网络FIFOs的内建自测试方法研究

摘要：

片上网络是对微系统芯片的传统片上互连结构的统一和发展,一种新的集成电路设计技术只有在它的测试技术发展完善后才能被广泛使用.首先建立了片上网络路由器FIFOs的功能模型,在此基础上,提出了一种基于可测性设计技术并且具有线性计算复杂度O(n)的FIFOs测试算法,论述了一种新颖的复用片上网络、共享内建自测试(BIST)结构对片上网络路由器FIFOs并行测试的方法.实验数据分析表明这种测试方法具有较高的故障覆盖率、较小的测试时间和片上资源开销.

关键词：微系统芯片、片上网络、FIFOs、内建自测试、可测性设计

所属期刊栏目：30

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国教育部"新世纪优秀人才支持计划"NCET-05-0804;国家建设高水平大学公派研究生项目资助

在线出版日期：2009-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1768-1772