基于显微形貌重建的XLPE电缆绝缘料纯净度测量技术

摘要：

本文针对交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了基于形貌重建的高速扫描测量系统.该测量系统采用现场可编程门阵列(FPGA)芯片控制高速A/D转换器采集CCD数据,根据动态阈值压缩CCD扫描图像数据并对数据进行封装处理,在保留杂质信息的前提下大幅地减少了待处理数据.封装数据通过USB2.0接口传输至上位机进行分析、记录和杂质图像重建.实验证明此系统测量实时准确,杂质形貌信息恢复完好.该系统适用于XLPE电缆绝缘料的缺陷检测和形貌测量.

关键词：交联聚乙烯、杂质检测、数据处理、现场可编程门阵列

所属期刊栏目：29

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2008-07-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1035-1039