10.3321/j.issn:0254-3087.2006.z3.054
痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路
本文介绍一种半导体激光器温度控制电路及其辅助调试电路(含软件),电路采用Peltier模块集成温度控制器MAX1978,温控精度约为0.02℃,该电路用于痕量气体光谱法检测系统.
半导体激光器、MAX1978、PID、痕量气体检测
27
TN2;TP3(光电子技术、激光技术)
2006-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
1909-1910
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10.3321/j.issn:0254-3087.2006.z3.054
半导体激光器、MAX1978、PID、痕量气体检测
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TN2;TP3(光电子技术、激光技术)
2006-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
1909-1910
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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