10.3321/j.issn:0254-3087.2006.z2.206
运用NAND闪存的负延时存储测试系统
非易失性存储器应用在存储测试中具有存储容量大,掉电后数据不丢失的优点.在存储测试系统中,为了能完整地记录测试信号,在电路中使用负延时来记录电路触发点以前的数据.负延时功能在触发信号为被测信号的幅值达到触发阈值触发电路时,显得更加重要.本文介绍了使用单片机结合CPLD控制两片NAND结构闪存实现高速存储,并实现负延时功能.本装置实现了小体积,微功耗,高过载.
负延时、存储测试、NAND闪存
27
TP3(计算技术、计算机技术)
2006-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
1517-1518