晶体性能综合检测仪研究

摘要：

本文研制了一种晶体的静态消光比、电光晶体的静态消光比或动态消光比、电光晶体的半波电压和波片的相位延迟的综合性自动化测量仪.该仪器采用偏振光干涉测量技术、调制光源技术、解调电路、软件除法技术,将光、机、电一体化技术和计算机控制技术有效地结合起来,既可用于科研,也可用于生产现场,实现晶体消光比、半波电压和波片相位延迟3个参数的一体化快速自动化测量.实践证明,运用文中的测量原理和方法,晶体的消光比测量可达到10,波片相位延迟的测量重复性精度优于0.5°,此外,运用电光晶体的纵向调制技术,还可精确测量出电光晶体的半波电压.

关键词：综合性、自动化、消光比、半波电压、相位延迟

所属期刊栏目：27

分类号：TN21/27(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金60372001

在线出版日期：2006-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1048-1051