数字集成电路的混合模式内建自测试方法

摘要：

为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖,提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法.通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器(LFSR)的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间,对上述伪随机测试中未能覆盖的故障,采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法.对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率,特别适合数字集成电路的内建自测试.

关键词：集成电路测试、内建自测试、m序列

所属期刊栏目：27

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院资助项目90407007

在线出版日期：2006-05-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：367-370,375