10.3321/j.issn:0254-3087.2005.z1.045
基于临界反射原理的精密角位移测量
随着纳米技术的迅速发展,以及其被广泛的应用于多种学科的国际前沿研究,纳米测量技术也变的越来越重要,显示出其举足轻重的地位.设计了基于光纤内反射效应的精密角位移测量方法,对其进行了理论分析.分析结果显示,测量的精度以及测量范围取决于入射光的偏振态,初始入射角以及反射次数.
角位移测量、内反射、测量范围、测量灵敏度
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TH82
2005-11-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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