基于临界反射原理的精密角位移测量

摘要：

随着纳米技术的迅速发展,以及其被广泛的应用于多种学科的国际前沿研究,纳米测量技术也变的越来越重要,显示出其举足轻重的地位.设计了基于光纤内反射效应的精密角位移测量方法,对其进行了理论分析.分析结果显示,测量的精度以及测量范围取决于入射光的偏振态,初始入射角以及反射次数.

关键词：角位移测量、内反射、测量范围、测量灵敏度

所属期刊栏目：26

分类号：TH82

在线出版日期：2005-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：111-112