纳米测量技术的挑战与机遇
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:0254-3087.2005.05.028

纳米测量技术的挑战与机遇

引用
纳米测量技术是纳米科学技术的基础学科之一.纳米科学技术的快速发展,不但给纳米测量技术提出了挑战,同时也给纳米测量技术提供了全新发展的机遇.综述了国内外纳米测量技术发展的现状,重点讨论了纳米材料、纳米电子学和纳米生物学等领域所涉及的纳米测量与性能表征的难题和挑战,论述了纳米科技成果给纳米测量技术带来的发展机遇,最后对纳米测量技术的发展方向做了展望.

纳米科学技术、纳米测量、纳米材料、纳米电子学、纳米生物学

26

TB383;TH741(工程材料学)

国家自然科学基金50275138

2005-06-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

547-550

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

仪器仪表学报

0254-3087

11-2179/TH

26

2005,26(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn