10.3321/j.issn:0254-3087.2004.01.028
利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线
应用逆压电效应,在低频直流条件下,提出利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线.推导出了Bragg反射波长λB随应力变化的关系式,并设计了合理的结构以直接测量PZT的位移量.通过实际测量给出的PZT电压-位移曲线表明:该系统测量方法结构简单,测量精度高,能进行实时测量.
光纤光栅、压电晶体、电压
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TN2(光电子技术、激光技术)
2004-03-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
111-112,124