10.3321/j.issn:0254-3087.2003.01.007
大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统.在此,采用可编程ASIC技术成功实现了这一系统.在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时,极大地减小了系统的PCB尺寸,首次实现了嵌入方式.
集成电路、老化测试、可编程ASIC
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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