消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究

摘要：

根据Mie光散射理论,本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法(Light extinction)测量微粒尺寸的测粒下限.分析及计算表明,采用合适的最优化计算方法,光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒.文中给出了数值模拟计算结果及实测结果.

关键词：光透消光法、测量下限、微粒尺寸

所属期刊栏目：19

分类号：TH7(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金96ZF14004

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：503-507