电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1006-0308.2019.02.016

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅

引用
建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅的方法.低温条件下样品经硝酸和氢氟酸溶解,以Si 251.611 nm为分析谱线,采用基体匹配法配制系列标准溶液以消除铅基体效应的影响.对实验条件进行了优化,对实际样品中硅含量测定的相对标准偏差(RSD,n=10)在2%左右,测得加标回收率在97.5%~106.7%之间.该法可成功地测定铅锭中微量硅含量,其测定范围0.0045%~0.0500%.

电感耦合等离子体原子发射光谱、铅锭、硅、氢氟酸

48

O657.31(分析化学)

国家质量监督检验检疫总局科技计划项目2015QK199

2019-06-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

72-75

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

云南冶金

1006-0308

53-1057/TF

48

2019,48(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn