10.3969/j.issn.1006-0308.2019.02.016
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅
建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅的方法.低温条件下样品经硝酸和氢氟酸溶解,以Si 251.611 nm为分析谱线,采用基体匹配法配制系列标准溶液以消除铅基体效应的影响.对实验条件进行了优化,对实际样品中硅含量测定的相对标准偏差(RSD,n=10)在2%左右,测得加标回收率在97.5%~106.7%之间.该法可成功地测定铅锭中微量硅含量,其测定范围0.0045%~0.0500%.
电感耦合等离子体原子发射光谱、铅锭、硅、氢氟酸
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O657.31(分析化学)
国家质量监督检验检疫总局科技计划项目2015QK199
2019-06-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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