ICP-MS法快速测定多晶硅表面八种金属杂质含量

摘要：

使用硝酸、氢氟酸、过氧化氢和水的混合溶液浸取多晶硅表面金属杂质,无需赶尽氢氟酸,采用配备耐氢氟酸惰性进样系统的ICP-MS直接测定多晶硅产品中钠、铝、钾、铁、铬、镍、铜和锌8种表面金属杂质含量,结果表明该方法具有简便、快速、准确等特点,加标回收率为84.0％～110.6％,相对标准偏差(RSD)为3.79％～11.96％,检出限为0.003 ng/g ～0.018 ng/g.

关键词：表面金属、ICP-MS、惰性进样系统

所属期刊栏目：47

分类号：O657.63(分析化学)

在线出版日期：2018-08-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：79-83