X射线荧光光谱法测定工业硅中十二种杂质元素

摘要：

建立了X射线荧光光谱粉末压片法,可同时对工业硅样品中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴十二种元素进行定量测定.工业硅样品中加入淀粉作黏结剂,以硼酸作垫衬剂压制成样片后,在选定的仪器分析条件下进行测定,该方法检测速度快,精度高,结果准确.

关键词：X射线荧光光谱法、工业硅中杂质元素、准确度、精密度

所属期刊栏目：45

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2016-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：132-136