非晶硅薄膜的制备及晶化研究
采用磁控溅射技术首先在玻璃基片、单晶硅片上溅射非晶硅薄膜再在其表面溅射铝膜,并用快速退火炉在不同温度下进行退火.利用台阶仪、拉曼散射光谱(Raman)仪和X射线衍射(XRD)仪对薄膜进行性能表征.结果表明:在功率120W,气压1.5~2.5pa,时间为3.5~4.5h的条件下可制备得非晶硅薄膜,Al诱导能降低晶化温度,并在500~600℃间存在一最佳晶化温度.
非晶硅薄膜、磁控溅射、铝诱导晶化、多晶硅
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O484.1(固体物理学)
国家自然科学基金联合基金资助项目U1037604
2013-08-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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