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10.7699/j.ynnu.ns-2013-019

非晶硅薄膜的制备及晶化研究

引用
采用磁控溅射技术首先在玻璃基片、单晶硅片上溅射非晶硅薄膜再在其表面溅射铝膜,并用快速退火炉在不同温度下进行退火.利用台阶仪、拉曼散射光谱(Raman)仪和X射线衍射(XRD)仪对薄膜进行性能表征.结果表明:在功率120W,气压1.5~2.5pa,时间为3.5~4.5h的条件下可制备得非晶硅薄膜,Al诱导能降低晶化温度,并在500~600℃间存在一最佳晶化温度.

非晶硅薄膜、磁控溅射、铝诱导晶化、多晶硅

33

O484.1(固体物理学)

国家自然科学基金联合基金资助项目U1037604

2013-08-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

16-19

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云南师范大学学报(自然科学版)

1007-9793

53-1046/N

33

2013,33(2)

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