基于SNP芯片玉米抗倒性状的QTL定位

摘要：

利用10K SNP芯片和玉米F2∶3家系,共定位到18个与茎秆穿刺强度、茎粗和穗位高性状相关的QTL.结果表明,5个茎秆穿刺强度QTL分别位于第1、3、4、6、7染色体,4个茎粗QTL分别位于第1、2、4、8染色体上,9个穗位高QTL分别位于第1、2、3、4、6、7、8、9染色体上.在第4染色体2.2～11.7 Mb区段上检测到同时控制地上第3节茎秆穿刺强度、茎粗和穗位高3个性状的QTL;在第8染色体C8M179标记(物理位置118 050 940 bp)附近检测到同时控制地上第3节茎粗和穗位高2个性状的QTL.

关键词：玉米、抗倒性、穿刺强度、QTL定位、SNP芯片

所属期刊栏目：30

分类号：S513.035.3(禾谷类作物)

资助基金：河南省科技开放合作项目;河南省农业科学院青年国际交流基金项目

在线出版日期：2022-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：29-34