10.3969/j.issn.0254-5357.2007.05.022
深孔电极载体蒸馏光谱法测定化探样品中八个易挥发元素
以碘化铵、硫酸钠、硫粉、碳粉、氧化钙、二氧化硅混合物为缓冲剂,深孔电极,截取曝光,以谱带背景作内标,一次摄谱同时测定化探样品中As、Sb、Bi、Ag、Pb、Cd、Tl、Sn等微量元素.方法精密度(RSD,n=10)为1.2%~5.0%,检出限为0.013~1.0 μg/g.方法经国家一级标准物质验证,测定结果与标准值基本相待.
深孔电极载体蒸馏法、发射光谱、易挥发元素
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O657.31(分析化学)
2007-11-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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