硅灰石的X射线荧光光谱分析

摘要：

将X射线荧光光谱法应用于硅灰石中SiO2、CaO、Al2O3、Fe2O3、P2O5、MgO、K2O、TiO2、MnO的同时快速测定.试样和混合熔剂的质量比为1∶10,在此稀释比时试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可适应各个组分的测定.熔融法分解试样有效地消除了试样的粒度效应和矿物效应.采用理论α系数校正法克服了基体吸收及增强效应.用国家标准物质和样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学分析值相符.

关键词：X射线荧光光谱法、硅灰石、混合熔剂、快速测定

所属期刊栏目：26

分类号：O657.34;P578.94(分析化学)

在线出版日期：2007-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：245-247