基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测

摘要：

提出一种基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测方法.首先,提出了一种新的基于缺陷区域预剔除的背景重构方法,能够有效地重构背景图像,消除图像亮度不均等干扰.然后,引入了基于Otsu的双γ分段指数变换法对差分图像进行增强处理,能够有效解决背景残余问题且极大增强了Mura区域的对比度和轮廓度.最后,直接运用动态阈值分割方法,可以快速准确地将Mura缺陷分离出来.实验结果表明,与传统的多项式曲面拟合方法以及离散余弦变换法相比,本文方法对各种类型的Mura缺陷检测效果稳定,且检出率和无误报率均达到了97％以上.

关键词：TFT-LCD;Mura缺陷检测;背景重构;分段指数变换

所属期刊栏目：36

分类号：TN141.9(真空电子技术)

资助基金：广东省普通高校特色创新类项目;深圳市坪山区科技创新专项;深圳技术大学2021年自制实验仪器设备项目

在线出版日期：2021-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1395-1402