TFT-LCD发粉不良改善及机理分析

摘要：

广色域、低功耗TFT-LCD在高温高湿运行测试时容易发生周边发粉不良,严重影响器件的视觉效果.本文研究了不同成分的绿色色阻、有源层与平坦层材料制成的微型液晶盒与TFT-LCD在光照、高温与高湿环境中的透过率变化情况,以及周边发粉的起始时间,明确发粉不良的根本原因为绿色色阻中的非金属配合物分子结构的Y颜料,且不良程度与产品边框、有源层与平坦层材料吸水率相关.通过使用高疏水性、高硬化度的绿色色阻材料与低吸水率的平坦层材料,在不损失TFT-LCD透过率的前提下,有效改善了TFT-LCD发粉不良,实现a-Si产品高温高湿运行测试(THO)运行1000 h以上,a-IGZO产品运行500 h以上不产生发粉不良,并建立TFT-LCD显色核心的RGB色阻材料的成分管理基准,搭建发粉不良的生产线与实验室评价体系.

关键词：薄膜晶体管液晶显示器;发粉不良;绿色色阻材料;颜料;荧光共振能量转移

所属期刊栏目：36

分类号：TN873.93(无线电设备、电信设备)

在线出版日期：2021-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：1264-1272