TFT-LCD中驱动信号与线残像的关系研究

摘要：

通过对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品易产生线残像的问题进行研究,考察了不同驱动信号电压及反转方式与线残像之间的关系.结果表明,通过减小驱动信号线电压,或提高驱动信号的反转频率,均可降低公共电极与信号线的耦合程度.当灰阶电压由L255减小为L46,耦合电压幅值由240 mV降为34.8 mV;当驱动信号方式由帧反转变为点反转时,耦合电压幅值由112.6 mV降为63.1 mV,有效地改善了线残像,并利用德拜弛豫公式分析了驱动信号反转对线残像的作用机理,为线残像的分析和改善提供了理论依据和解决方向.

关键词：线残像、畸变、驱动信号反转方式、驱动信号电压

所属期刊栏目：33

分类号：TN141(真空电子技术)

在线出版日期：2018-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：375-380