基于灰度控制的任意端点直线反走样算法研究

摘要：

针对使用灰度控制算法不能准确绘制端点不在像素中心点的直线的问题,结合Wu算法,提出了一种基于灰度控制的任意端点直线反走样算法.介绍了Wu算法思想和灰度控制反走样算法,对两种算法进行数学分析,提出灰度控制不能解决的问题及问题产生的后果.结合Wu算法提出了新的基于灰度控制的算法,新算法减少了距离计算和灰度转换的计算,同时解决了任意端点直线的反走样问题.对新算法的效率和反走样效果进行仿真计算.仿真结果表明,新算法比Wu算法效率更高,绘制直线所用时间平均减少33.91％;新算法比灰度控制算法绘制直线更准确,特别是在直线移动的过程中,有较好的动态显示效果.本文提出的新算法,效率较高,显示效果较好,具有很高的应用价值.

关键词：反走样、灰度控制、Wu算法、任意端点直线

所属期刊栏目：31

分类号：TP391.9(计算技术、计算机技术)

资助基金：总装预研基金资助项目102080501;航空基金资助项目No.20100818015Supported by The General Armament Department Pre-Research Foundation102080501;Aeronautics Foundation20100818015

在线出版日期：2016-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：392-398