基于馈通电压自动补偿的 OLED 电性能测试波形设计研究

摘要：

常规馈通电压计算原理涉及到 OLED 体的电容值，不同型号 OLED 产品电容值是个变量，为了得到最佳的电容值， OLED 制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使 OLED 体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压，无需测量 OLED 体的电容值和修正 V com 值即可补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压。实验结果表明，基于馈通电压自动补偿原理设计的 Shorting Bar Test Waveform 与 Vcom 人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致，而对不同缺陷的检测率有微小差异。

关键词：OLED、电性能测试、波形测试、电压补偿

分类号：TN321+.5(半导体技术)

资助基金：2014年广东省教育厅科技创新项目2013KJCX0195;广东省现代信息服务业发展专项资金项目GDEID2011IS061

在线出版日期：2015-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：296-299