扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究

摘要：

在扭曲向列相中，基于Landau-deGennes理论，利用二维松弛迭代方法，研究了s＝±1/2扭曲向错的有序重构，给出了随着盒厚减小缺陷核的双轴结构。在临界值dc?≈9ξ(ξ是序参数变化的相干长度)，有序重构结构是稳定态，而带缺陷结构是亚稳态，此时系统缺陷结构和双轴性开始沿基板方向扩散。相对于没有初始向错的情况，本征值交换为稳定解对应的盒厚较大。在临界盒厚dc≈7ξ，系统发生双轴性转变，双轴性结构扩散到整个液晶盒，形成双轴壁。在盒厚d≈9ξ时力达到极大值，而d≈7ξ时力达到极小值。对于非对称弱锚泊边界条件，随着锚泊强度的降低，弱锚泊边界将向错逐渐驱出边界。

关键词：有序重构、扭曲向错线、双轴性参数、Landau-de Gennes理论

分类号：O753.2(非晶态和类晶态)

资助基金：国家自然科学基金11374087,11447179

在线出版日期：2015-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：213-223