图形化硅纳米线阵列场发射阴极的制备及其场发射性能
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3788/YJYXS20112604.0486

图形化硅纳米线阵列场发射阴极的制备及其场发射性能

引用
结合光刻工艺和金属援助硅化学刻蚀法成功地制备了图形化的硅纳米线阵列场发射阴极,研究了其场发射性能.扫描电子显微镜照片显示,嵌入在硅衬底的硅纳米线阵列为垂直取向,形成图形化.场发射测试与分析表明,该阴极能够有效实现场电子发射,并且有利于获得图形化、低发散角的电子束.本研究提供了一种在硅基底上简单、有效地选域制备图形化硅纳米线阵列场发射阴极的途径,可潜在用于构筑各种真空微电子器件.

图形化的硅纳米线阵列、金属援助硅化学刻蚀、场发射

26

O462.4(真空电子学(电子物理学))

广东高校优秀青年创新人才培育项目LYM08075;浙江大学硅材料国家重点实验室开放课题SKL2010-5

2012-01-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

486-489

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

液晶与显示

1007-2780

22-1259/O4

26

2011,26(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn