ODF工艺中液晶滴下量的优化

摘要：

研究了小尺寸液晶显示器件ODF(One Drop Fi11ing)工艺中液晶滴下量对漏液晶和低温气泡的影响,确定了液晶滴下量的安全范围.开发了液晶滴下设备与PS高度检测设备联动的新型液晶滴下方法,有效地解决了PS产品在ODF工艺中发生漏液晶和低温气泡的问题.

关键词：LCD、ODF、PS、漏液晶、低温气泡

所属期刊栏目：26

分类号：TN141.9(真空电子技术)

在线出版日期：2011-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：324-328