10.3969/j.issn.1007-2780.2008.03.011
大屏幕TFT-LCD显示用Timing Controller的存储器测试
基于March算法的存储器内建自测试电路能够获得很高的故障覆盖率,但在测试小规模的存储器时暴露出了面积相对比较大的缺点.针对大屏幕Timing Controller芯片"龙腾TC1"中4块640×18 bit SRAM"按地址递增顺序连续进行写操作"的工作特点,提出了一种新的存储器内建自测试方法.该方法按照地址递增顺序向存储器施加测试矢量,避免了直接采用March C算法所带来的冗余测试,简化了内建自测试电路,大大减少了由管子的数量和布线带来的面积开销,可达到March C+算法相同的"测试效果".
TFT-LCD、时序控制器、存储器、内建自测试、March C
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TN141.9;TM571(真空电子技术)
国家"863计划"资助项目2005AA1Z1193
2008-08-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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