一种改进的C-V方法对向列相液晶弹性常数k11、k33测量的理论研究
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10.3969/j.issn.1007-2780.2007.05.017

一种改进的C-V方法对向列相液晶弹性常数k11、k33测量的理论研究

引用
提出了一种更为准确的测量向列相液晶展曲、弯曲弹性常数的C-V方法.以正性液晶材料为例,当沿面排列的液晶分子预倾角不为零时,阈值电压值不易确定, k11的确定必定存在误差,而以前报道并未考虑到此问题.文章针对此问题给出了在强锚定条件下,预倾角不为零时C-V的关系式,并提出了通过曲线拟合来同时确定弹性常数k11、k33的方法.此方法对弹性常数的测量更为准确,液晶盒的制作要求降低,且测试简单、易操作.

向列相液晶、电容-电压、弹性常数、预倾角、曲线拟合

22

O753.2(非晶态和类晶态)

国家自然科学基金60576056

2007-12-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

587-590

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1007-2780

22-1259/O4

22

2007,22(5)

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