熔融制样-X射线荧光光谱法测定稀土硅铁中11种主次元素

摘要：

采用X射线荧光光谱法(XRF)测定稀土硅铁中硅、锰、铝、铁、钛及镧系元素时,熔融制样过程中氧化条件不好控制,容易造成挂壁坩埚过早熔化或坩埚挂壁不好的现象,使铂-金坩埚受到严重侵蚀.实验以四硼酸锂为熔剂铺底保护铂-金坩埚,使用碳酸锂对稀土硅铁样品进行烧结氧化;再采用过氧化钠进行深度氧化,解决了稀土硅铁合金对铂-金坩埚腐蚀的问题.试样和四硼酸锂熔剂的质量比为1 ∶30,在1 100℃下熔融试样12 min,可制得表面质量良好的玻璃片,有效地消除了试样的粒度效应和矿物效应影响.按照实验方法测定稀土硅铁中硅、锰、铝、钙、铁、钛、镧、铈、镨、钕、钐等11种主次元素,结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.39％～5.0％,与标准方法及滴定法分析结果吻合较好,能满足稀土硅铁中主次元素的检测需求.

关键词：预氧化、熔融制样、X射线荧光光谱法(XRF)、稀土硅铁、稀土

所属期刊栏目：43

分类号：O657.34;TF03+1;TF645(分析化学)

在线出版日期：2023-02-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：54-61