X射线荧光光谱法测定高纯石墨中杂质元素
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011451

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中杂质元素

引用
高纯石墨的传统湿法化学测定,需要高温灰化处理样品,程序相对繁琐.试验通过高纯石墨和金属离子溶液配制出有含量梯度的系列高纯石墨定值标样,并经电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)定值,解决了高纯石墨标准样品缺失的问题.试验对比了不同炭素基体试剂的形貌,确定使用高纯石墨作标准样品的基体试剂,利用ICP-AES方法测定不同粘结剂中杂质元素,选择优级纯硬脂酸作粘结剂;通过条件试验确定研磨时间为40 s;利用研磨压片法制样,以X射线荧光光谱法(XRF)测定高纯石墨材料中钒、钠、钙、铁、镍、钛、铝、磷、锌、锰、钾等元素的含量.9 g石墨样品加入1.5g硬脂酸作粘结剂研磨压片制样,制样方法的精密度良好,在此条件下工作曲线不需要校正即可得到良好线性.对高纯石墨样品进行正确度考察,测定结果同ICP-AES结果或理论值相吻合.

高纯石墨;X射线荧光光谱法(XRF);杂质元素;压片制样

42

O657.34(分析化学)

2022-03-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

50-56

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

冶金分析

1000-7571

11-2030/TF

42

2022,42(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn