10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011498
双曲面弯晶X射线分析仪器及应用进展
弯晶X射线技术历经近百年发展,已成为当今X射线荧光光谱(XRF)技术的主要研究方向之一.始于晶体X射线衍射技术,几代学者前仆后继从概念设想、理论推导,推动着弯晶X射线技术的进步;成于人工晶体和曲面晶体加工工艺的成熟,从平面晶体、柱面晶体、双曲面晶体到全聚焦双曲面晶体;拓于微探针分析、实验室能谱仪器、临床成像等应用,双曲面全聚焦弯晶能够将照射到晶体上、满足Bragg定律和罗兰圆结构的X射线单色化并全聚焦,弯晶X射线技术和仪器性能获得了本质提升.文章回顾了弯晶X射线技术和仪器的研制和应用历程,追寻前人在晶体及仪器研制方面的宝贵经验,探讨了未来弯晶X射线仪器的发展方向.
弯晶X射线、晶体衍射、曲面晶体、单色、全聚焦
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O657.34(分析化学)
国家重点研发计划2017YFF0108900
2022-03-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
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