氢化物发生-原子荧光光谱法测定纯锆中微量铋

摘要：

纯锆被广泛应用于航空航天、航海和核反应堆等领域.铋元素对锆的耐腐蚀性有重要影响,准确测定纯锆中铋含量非常重要.实验建立了氢化物发生-原子荧光光谱法(HG-AFS)测定纯锆中微量铋元素的分析方法.采用HCl-HNO3-HF可将纯锆完全溶解;以硫脲-抗坏血酸为预还原剂,12 g/L硼氢化钾溶液为还原剂,20％(体积分数)盐酸为测定介质,光电倍增管负高压为300 V,灯电流为80 mA,实现了HG-AFS对纯锆中铋的测定.实验表明锆基体对铋元素测定的干扰可忽略,因此配制标准溶液系列时不需要进行锆基体的匹配.铋校准曲线的线性范围为0.00005％～0.0010％,校准曲线线性相关系数r=0.9998;方法检出限为0.000002％.按照实验方法分析3个纯锆样品中铋,结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.29％～0.75％;测定结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)基本一致.

关键词：氢化物发生-原子荧光光谱法(HG-AFS)、纯锆、铋

所属期刊栏目：40

分类号：O657.31;TF801+.3(分析化学)

在线出版日期：2020-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：63-67