硅钼蓝分光光度法测定高铍铍铝合金中硅

摘要：

高铍铍铝合金中的杂质元素硅对高铍铍铝合金热等静压、精密铸造及耐腐蚀性能影响较大,需要对其含量进行严格控制,所以测定高铍铍铝合金中的硅具有重要意义.采用硫酸(1+1)、硝酸和氢氟酸于水浴条件下溶解试样,用硼酸掩蔽剩余氟离子,在0.10～0.15 mol/L硫硝混酸介质下,钼酸铵与硅反应生成硅钼黄杂多酸,稳定20 min后,用草酸掩蔽铁离子,同时加入抗坏血酸将硅钼黄还原成硅钼蓝,放置10 min,于波长820 nm处采用分光光度法进行测定,实现了硅钼蓝分光光度法对高铍铍铝合金(铍的质量分数为60％～70％)中硅的测定.在优化的实验条件下,试液中硅质量在10～60μg范围内与其对应的吸光度呈良好的线性关系,相关系数为1.000,方法中硅的检出限和测定下限分别为0.0021％(质量分数,下同)和0.0071％.按照实验方法测定60BeAl和70BeAl两个高铍铍铝合金试样中硅含量,测得结果的相对标准偏差(RSD,n=8)为2.9％～3.4％.将实验方法用于测定高铍铍铝合金实际试样中硅含量,结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)相吻合.

关键词：高铍铍铝合金、硅、硅钼蓝分光光度法

所属期刊栏目：39

分类号：O657.32(分析化学)

资助基金：宁夏自然科学基金项目2018AAC03226

在线出版日期：2019-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：81-85