X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量的质量控制方法

摘要：

为满足本公司生产需求,实验室采用X射线荧光光谱法(XRF)测定氧化铝中SiO 2、Fe2 O 3、Na2 O含量,而XRF检测结果的准确性取决于日常质量控制效果.工作中总结出一套以XRF设备分析原理为基础结合氧化铝中SiO 2、Fe2 O 3、Na2 O测定经验的有效质量控制方法,论述了质量控制计划制定的依据及质量控制方法选择的原则,从仪器设备检测状态控制、样品制备方法选择、XRF漂移校正、标准样品检测、方法比对、人员比对及留样再测等方面详细介绍了内部质量控制方法,同时运用实验室间比对及测量审核两种外部质量控制方法对内部质量控制效果进行检验.通过统计分析内外部质量控制数据,发现实验室用XRF测定粉末压片法制样的氧化铝中SiO 2、Fe2 O 3、Na2 O含量,检测结果准确可靠,证明质量控制方法有效.该套质量控制经验对于XRF测定其他材料中杂质元素含量的质量控制方法的建立同样具有参考借鉴意义.

关键词：质量控制、X射线荧光光谱法(XRF)、氧化铝、二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠

所属期刊栏目：39

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2019-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：32-38