活性炭吸附-X射线荧光光谱法测定电子废弃物中金

摘要：

电子废弃物中金含量高,传统分析方法操作手续繁杂,分析时间长且对技术要求较高.实验方法采用王水将一定量的含金电子废弃物溶解后定容到100mL容量瓶中,依据金含量高低分取一定体积样品溶液于烧杯中保持介质酸度为5%~30%,加入1.5g活性炭进行静态吸附,然后将活性炭与微晶纤维素按质量比1:1混合均匀,采用粉末压片-X射线荧光光谱法(XRF)测定其中金的含量.活性炭吸附使电子废弃物大量的基体物质与金分离,从而使分析样片基体主要由活性炭和微晶纤维素组成,由不同分析样品制成的分析样片基体组成基本相同,同时采用金谱线背景作为内标进一步校正基体效应.选择 Au-Lα谱线,Ge晶体和适当的PHA范围消除了谱线干扰,方法的检出险为5μg.对3个不同金含量的电子废弃物样品进行精密度考察,结果的相对标准偏差(RSD,n=12)为1.3%~2.0%.对电子废弃物样品的分析结果经与氢醌滴定法对比,基本一致.实验方法避免了化学湿法中高温灰化、滴定等繁杂的手工操作,可以应用于电子废弃物中含量在0.x~xx.x g/kg范围内金的测定.

关键词：X射线荧光光谱、电子废弃物、活性炭吸附、微晶纤维素、金、粉末压片

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资助基金：河北省地质矿产勘查开发局项目454-0401-YBN-BFOE

在线出版日期：2018-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：63-68