直接粉末进样-能量色散X射线荧光光谱法测定地质样品中多种组分

摘要：

为提高现场快速分析的能力,充分发挥小型实验室设备的功能,实验采用能量色散X射线荧光光谱仪,直接使用粉末样品分析常规地质样品中的多种组分.用理论α系数和康普顿内标校正基体效应和谱线重叠干扰,直接将粉碎加工到200目(74 μm)的样品放在液体塑料盒中进行测量.对地质样品标准物质进行样品用量试验表明,样品用量大于3.0 g时,测量结果趋于稳定或者在认定值的准确度控制范围内变动,实验时选取4.0 g作为样品用量.精密度试验表明,除组分La、Ce、Sn、W、U和Na2O的相对标准偏差(RSD,n=12)大于10%外,其他组分的RSD都小于10%,尤其是组分Ti、Mn、Co、Rb、Sr、SiO2、K2O、CaO和Fe2O3的RSD都在1%以下.通过对未参加回归的标准物质的验证,参照《地球化学普查(比例尺1∶50 000)规范样品分析技术要求补充规定》,该法对常规地质样品可定量分析Ti、V、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Th、U、K2O、CaO和Fe2O3等19种组分,近似定量分析Ce和W,半定量分析Cr、La、Sn、SiO2和Na2O.由于将样品放入液体塑料盒中进行测量,无需压片制样设备,该法适合野外现场分析应用.

关键词：能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)、地质样品、直接粉末进样

所属期刊栏目：37

分类号：TG1;TF5

在线出版日期：2017-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：21-28