X射线荧光光谱法测定铝锂合金中多元素含量

摘要：

选择铝锂合金系列标样建立校准曲线,通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰,结果表明,校正后多数元素校准曲线的标准偏差(SD)和品质因子(K)变得更小,曲线的离散度降低,线性关系得到较大改善,由此建立了波长色散X射线荧光光谱法测定铝锂合金中Mg、Si、Ti、Cr、Zr、Fe、Cu、Zn、Mn等9种元素含量的新方法.各元素的检出限均低于4.5 μg/g.对E986铝锂合金标准样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.9％;对铝锂合金实际样品进行分析,测定值与湿法及火花源原子发射光谱法的测定值吻合较好,能够满足铝锂合金中各元素的检测要求.

关键词：X射线荧光光谱法、铝锂合金、基体效应校正、元素分析

所属期刊栏目：34

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2014-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：52-56