X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量

摘要：

采用粉末压片法制样,建立了X射线荧光光谱法测定石灰石中10种组分(CaO、SiO2、MgO、Fe2O3、Al2O3、MnO、TiO2、K2O、Na2O、SrO)含量的方法.通过试验确定石灰石样品粒度达到74 μm以下,3.00g样品称样量,30 t压力压片的制样条件.试验发现,压片时利用硼酸镶边和硼酸衬底,不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题;利用经验α系数法校正基体效应,校正后校准曲线的离散度较小,有效地消除了重叠谱线干扰.各组分的检出限在0.47～188.08 μg/g之间.对石灰石试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)在0.042％～5.7％范围内;对石灰石标准样品进行分析,各组分的测定值与认定值相符.方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求.

关键词：X射线荧光光谱法、石灰石、压片制样、多组分

所属期刊栏目：34

分类号：O657.34;P619.26+3(分析化学)

在线出版日期：2014-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：39-42