应用粉末压片-X射线荧光光谱法检验铁矿石样品的均匀性

摘要：

介绍了采用粉末压片制样,X射线荧光光谱法测定铁矿石样品中的化学成分,然后用方差分析法对测定结果进行统计检验的方法.实验使用铁精粉和磁铁矿按照1∶1的比例混合配制成1 #和2#两个试验样品,经过研磨和压片后,在样品的4个水平(方向)上各测定5 次,利用MINITAB软件对试验数据进行方差分析,结果表明1 #样品不均匀,2#样品均匀.根据统计量F比值可知Fe元素的可靠性最好.同时,采用国家标准方法(GB/T 6730.5-2007)对1 #和2 #试验样品中TFe含量各测定10次,得到标准偏差分别为0.16％和0.044％,与该方法给出的实验室内标准偏差(0.055％)比较后,进一步证明了用本文的方法检验铁矿石样品的均匀性是可行的.

关键词：X射线荧光光谱法、铁矿石、粉末压片、均匀性、方差分析

所属期刊栏目：32

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2012-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：40-44