X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及18个次量成分

摘要：

采用X射线荧光光谱法测定铁矿石中主量成分(TFe)及18个次量成分(P、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Mn、TiO2、V2O5、K2O、S、Cr2O3、Ni、Co、Zn、Pb、Cu、Na2O、As).以固定理论α影响系数法校正基体效应,使各成分的适用检测范围都得到较大拓宽;采用熔融方法制样,消除了试样的粒度效应和矿物效应.为了避免S的损失,样品经预氧化后灼烧,由软件计算或准确测定样品的烧失量.精密度试验表明,各成分的标准偏差(SD)为0.001%～0.268%.方法用于铁矿石实际样品分析,结果与其他方法结果相吻合.

关键词：铁矿石、X射线荧光光谱法、全铁、次量成分

所属期刊栏目：31

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2011-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：36-40