10.3969/j.issn.1000-7571.2010.07.011
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定碳化硅中杂质元素
提出了使用电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定碳化硅中微量Fe、Al、Ti、Ca、Mg、P、Mn的分析方法.样品用无水碳酸钠与硼酸混合熔剂熔融,硝酸提取,甲醇除硼,氢氟酸挥硅,然后在选定的仪器工作条件下测定.使用基体匹配法来校正基体的干扰.各元素的测定检出限为0.001~0.054 μg/mL,相对标准偏差(RSD,n=9)为0.5%~3.7%.经比对试验证明,本法测定值与其他方法测定值相符合.
电感耦合等离子体原子发射光谱法、碳化硅、微量元素
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O657.31(分析化学)
2010-09-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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